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美國Trio-Tech 半導體高加速壓力測試系統，高加速應力測試（HAST）結合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間，以測量元件的可靠性，無(wú)論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統測試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速，在較短的時(shí)間內發(fā)現包裝密封，材料和接頭等缺陷。偏置高加速壓力測試（BHAST）利用與HAST測試相同的變量（高壓，高溫和時(shí)間），但增加了電壓偏差。BHAST測試